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IXTK 82N25P IXTQ 82N25P
IXTT 82N25P
Symbol
Test Conditions
Characteristic Values
(T J = 25 ° C, unless otherwise specified)
Min. Typ. Max.
TO-3P (IXTQ) Outline
g fs
C iss
C oss
C rss
t d(on)
t r
t d(off)
t f
Q g(on)
Q gs
Q gd
V DS = 10 V; I D = 0.5 I D25 , pulse test
V GS = 0 V, V DS = 25 V, f = 1 MHz
V GS = 10 V, V DS = 0.5 V DSS , I D = 60 A
R G = 4 ? (External)
V GS = 10 V, V DS = 0.5 V DSS , I D = 0.5 I D25
30
52
4800
900
210
29
20
78
22
142
32
74
S
pF
pF
pF
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
R thJC
0.25 ° C/W
R thCS
TO-3P
TO-264
0.21
0.15
° C/W
° C/W
Source-Drain Diode
Characteristic Values
Symbol
Test Conditions
(T J = 25 ° C, unless otherwise specified)
Min. Typ. Max.
I S
V GS = 0 V
82
A
I SM
V SD
t rr
Q RM
Repetitive
I F = I S , V GS = 0 V,
Pulse test, t ≤ 300 μ s, duty cycle d ≤ 2 %
I F = 25 A, -di/dt = 100 A/ μ s
V R = 100 V, V GS = 0 V
200
2.0
250
1.5
A
V
ns
μ C
TO-268 (IXTT) Outline
TO-264 (IXTK) Outline
IXYS reserves the right to change limits, test conditions, and dimensions.
IXYS MOSFETs and IGBTs are covered by 4,835,592
4,931,844
5,049,961
5,237,481
6,162,665
6,404,065 B1
6,683,344
6,727,585
one or moreof the following U.S. patents:
4,850,072
4,881,106
5,017,508
5,034,796
5,063,307
5,187,117
5,381,025
5,486,715
6,259,123 B1
6,306,728 B1
6,534,343
6,583,505
6,710,405B2
6,710,463
6,759,692
6,771,478 B2
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